Кристаллы
<<  Синтез элементов дифракционной микрооптики и фотонных кристаллов ИК-диапазона для технологических и телекоммуникационных приложений Исследование фотоиндуцированных явлений в фоторефрактивных кристаллах в лабораторном физическом эксперименте  >>
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
№1 Какое предельное разрешение можно получить на электронном
№1 Какое предельное разрешение можно получить на электронном
100 kV
100 kV
№2 Определить длину волны электронов с учетом релятивистских поправок
№2 Определить длину волны электронов с учетом релятивистских поправок
100 kV
100 kV
E (kV)
E (kV)
№3 Оценить пространственное разрешение на рентгеновской топограмме
№3 Оценить пространственное разрешение на рентгеновской топограмме
1.
1.
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
1. Дифракционное разрешение (размытие)
1. Дифракционное разрешение (размытие)
№4 Какой контраст (экстинкционный или бормановский) будет наблюдаться
№4 Какой контраст (экстинкционный или бормановский) будет наблюдаться
Экстинкционный
Экстинкционный
№5 Какое разрешение можно получить на электронном микроскопе с
№5 Какое разрешение можно получить на электронном микроскопе с
?
?
№6 Определить величину ускоряющего напряжения, начиная с которого
№6 Определить величину ускоряющего напряжения, начиная с которого
В результате получим искомое значение ускоряющего напряжения порядка
В результате получим искомое значение ускоряющего напряжения порядка
№7 Определить коротковолновую границу тормозного спектра
№7 Определить коротковолновую границу тормозного спектра
V=20000v
V=20000v
№8 При съемке на дифрактометре в медном излучении в качестве
№8 При съемке на дифрактометре в медном излучении в качестве
Из закона поглощения найдем
Из закона поглощения найдем
№9 Длина волны Ka-серии меди
№9 Длина волны Ka-серии меди
R-постоянная Ридберга, a-константа определяемая типом линии
R-постоянная Ридберга, a-константа определяемая типом линии
№10 Определить количество экстинкционных полос которое будет
№10 Определить количество экстинкционных полос которое будет
T – толщина кристалла, а
T – толщина кристалла, а
№11 На рентгеновской топограмме кристалла с входной поверхностью (111)
№11 На рентгеновской топограмме кристалла с входной поверхностью (111)
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
Подставляя в это соотношение координаты вектора дифракции
Подставляя в это соотношение координаты вектора дифракции

Презентация: «Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2». Автор: Ernest Suvorov. Файл: «Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2.ppt». Размер zip-архива: 824 КБ.

Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2

содержание презентации «Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2.ppt»
СлайдТекст
1 Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных

Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных

методов исследования реальной структуры кристаллов № 2

Д.ф.-м.н., проф. Э.В.Суворов

2 №1 Какое предельное разрешение можно получить на электронном

№1 Какое предельное разрешение можно получить на электронном

микроскопе с ускоряющим напряжением 100kV, 400kV если все ошибки за исключением дифракционной равны нулю. Релятивистскую поправку не учитывать. Угловая апертура объективной линзы ?6?10-3 рад.

3 100 kV

100 kV

400 kV

4 №2 Определить длину волны электронов с учетом релятивистских поправок

№2 Определить длину волны электронов с учетом релятивистских поправок

и без них в электронном микроскопе с ускоряющими напряжениями 100kV, 400kV. Какую ошибку вносит отсутствие релятивистских поправок.

5 100 kV

100 kV

6 E (kV)

E (kV)

? (?)

?Рел (?)

E=100kV

?=0.039?

?Рел=0.037?

E=400kV

?=0,019?

?Рел=0,0164?

E=600kV

?=0,016?

?Рел=0,0126?

7 №3 Оценить пространственное разрешение на рентгеновской топограмме

№3 Оценить пространственное разрешение на рентгеновской топограмме

снятой по методу Ланга. Излучение MoK?1 (?=0,70926?), расстояние образец - фотопластинка l=10мм, размеры источника ?x=30мкм, расстояние источник - щель L=450мм, используемое отражение (220), фурье-компанента поляризуемости кристалла для этого случая ?(220)=(2.04+i0.017)10-6.

8 1.

1.

2.

3.

9 Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
10 1. Дифракционное разрешение (размытие)

1. Дифракционное разрешение (размытие)

2. Спектральное уширение (размытие)

3. Геометрическое уширение (размытие)

11 №4 Какой контраст (экстинкционный или бормановский) будет наблюдаться

№4 Какой контраст (экстинкционный или бормановский) будет наблюдаться

на топограмме монокристалла кремния толщиной 900мкм на отражении (220) на излучении а)-MoK?1 - б)-CuK?1 -

12 Экстинкционный

Экстинкционный

Бормановский

13 №5 Какое разрешение можно получить на электронном микроскопе с

№5 Какое разрешение можно получить на электронном микроскопе с

ускоряющим напряжением 100kV, если учесть дифракционную ошибку и сферическую аберрацию. Угловая апертура объективной линзы ?6?10-3 рад. Коэффициент сферической аберрации Cs=0,17мм.

14 ?

?

15 №6 Определить величину ускоряющего напряжения, начиная с которого

№6 Определить величину ускоряющего напряжения, начиная с которого

разница длин волн электронов с учетом и без учета релятивистской поправки будет составлять 15 процентов.

16 В результате получим искомое значение ускоряющего напряжения порядка

В результате получим искомое значение ускоряющего напряжения порядка

150кв, при котором ошибка составит 15%.

17 №7 Определить коротковолновую границу тормозного спектра

№7 Определить коротковолновую границу тормозного спектра

рентгеновского излучения для ускоряющего напряжения 20kV, 40kV, 60kV.

18 V=20000v

V=20000v

?=0,620?

V=40000v

?=0,309?

V=60000v

?=0,206?

19 №8 При съемке на дифрактометре в медном излучении в качестве

№8 При съемке на дифрактометре в медном излучении в качестве

селективного фильтра используется никель. Определить, насколько уменьшится интенсивность Ka и Kb излучений. Толщина фильтра 0,0021см, ?NI=8,9x103 кг/м3. В области длин волн ?=1,5? в никеле наблюдается резкий скачек коэффициента поглощения

20 Из закона поглощения найдем

Из закона поглощения найдем

Используя значение ?Ni , определяем ? для CuK? и CuK? излучений.

21 №9 Длина волны Ka-серии меди

№9 Длина волны Ka-серии меди

K?=1,540?. Определить длину волны Ka-серии молибдена, если zCu=29, zMo=42.

22 R-постоянная Ридберга, a-константа определяемая типом линии

R-постоянная Ридберга, a-константа определяемая типом линии

a~3/4

Для Ka ,

23 №10 Определить количество экстинкционных полос которое будет

№10 Определить количество экстинкционных полос которое будет

наблюдаться на топограмме кристалла кремния с клиновидным срезом на краю. Толщина кристалла 450мкм, поверхность кристалла перпендикулярна вектору [111], топограмма снята на отражении (220) перпендикулярном поверхности кристалла на излучении MoK?1 (?=0,70926?). Фурье-компанента поляризуемости кристалла для этого случая ?(220)=(2.04+i0.017)10-6. Параметр решетки для кремния а=5,4306?.

24 T – толщина кристалла, а

T – толщина кристалла, а

- экстинкционная длина.

25 №11 На рентгеновской топограмме кристалла с входной поверхностью (111)

№11 На рентгеновской топограмме кристалла с входной поверхностью (111)

полученной по методу Ланга, наблюдаются прямолинейные дислокации. Они лежат в плоскости ( 11) вдоль направления [0 1]. Изображение гаснет при отражении от системы плоскостей ( 22). Определить тип этих дислокаций.

26 Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных
27 Подставляя в это соотношение координаты вектора дифракции

Подставляя в это соотношение координаты вектора дифракции

Погасание контраста происходит в случае если скалярное произведение вектора дифракции на вектор Бюргерса равно нулю т.е.

можно определить возможные координаты вектора Бюргерса

Следовательно, возможный тип дислокаций это винтовые дислокации.

«Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2»
http://900igr.net/prezentacija/fizika/primery-reshenija-zadach-po-kursu-fizicheskie-osnovy-eksperimentalnykh-metodov-issledovanija-realnoj-struktury-kristallov-2-216863.html
cсылка на страницу

Кристаллы

9 презентаций о кристаллах
Урок

Физика

134 темы
Слайды
900igr.net > Презентации по физике > Кристаллы > Примеры решения задач по курсу физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов № 2