Ионизирующее излучение
<<  Рентгеновские аппараты для промышленного контроля Рентгеновские лучи  >>
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Историческая справка
Историческая справка
Методы рентгеновского анализа
Методы рентгеновского анализа
Почему РСФА
Почему РСФА
Почему РСФА
Почему РСФА
Основные физические процессы при РФА
Основные физические процессы при РФА
Структурная схема рентгенофлуоресцентного спектрометра
Структурная схема рентгенофлуоресцентного спектрометра
Основные схемы спектрометров РФА
Основные схемы спектрометров РФА
Пределы обнаружения для некоторых аналитических задач (EDX-700)
Пределы обнаружения для некоторых аналитических задач (EDX-700)
Интерпретация спектральных данных
Интерпретация спектральных данных
Общая структура аппаратного спектра
Общая структура аппаратного спектра
Общая схема обработки данных РФА
Общая схема обработки данных РФА
Матричный эффект и эффект подвозбуждения
Матричный эффект и эффект подвозбуждения
Относительный вклад различных процессов в возбуждение CrK
Относительный вклад различных процессов в возбуждение CrK
Выражение для интенсивности характеристического излучения при
Выражение для интенсивности характеристического излучения при
Изменение интенсивности элемента в зависимости от содержания в
Изменение интенсивности элемента в зависимости от содержания в
Определение высоких содержаний в средах с малым атомным номером
Определение высоких содержаний в средах с малым атомным номером
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Варианты учета матричных и межэлементных влияний
Варианты учета матричных и межэлементных влияний
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Пример применения комбинированных уравнений связи
Пример применения комбинированных уравнений связи
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Примеры градуировочных зависимостей по комбинированным уравнениям
Примеры градуировочных зависимостей по комбинированным уравнениям
Учет матричных эффектов за счет анализа рассеянной составляющей
Учет матричных эффектов за счет анализа рассеянной составляющей
Модифицированный способ стандарта-фона
Модифицированный способ стандарта-фона
Сопоставление множественной регрессии и МССФ
Сопоставление множественной регрессии и МССФ
Фундаментальные параметры
Фундаментальные параметры
Фундаментальные параметры (2)
Фундаментальные параметры (2)
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Основная идея – использование рассеяных линий из спектра возбуждения
Основная идея – использование рассеяных линий из спектра возбуждения
Использование дифракционных данных
Использование дифракционных данных
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Рентгеновский флуоресцентный анализ
Определение легких элементов восстановлением диаграммы рассеяния Схема
Определение легких элементов восстановлением диаграммы рассеяния Схема
Дифференциальные массовые сечения рассеяния и фотопоглощения для
Дифференциальные массовые сечения рассеяния и фотопоглощения для
Градуировочная зависимость для опредения водорода на РФА спектрометре
Градуировочная зависимость для опредения водорода на РФА спектрометре
Градуировочные зависимости для легких элементов
Градуировочные зависимости для легких элементов
Благодарности
Благодарности
Спасибо за внимание
Спасибо за внимание

Презентация: «Рентгеновский флуоресцентный анализ». Автор: ssav. Файл: «Рентгеновский флуоресцентный анализ.ppt». Размер zip-архива: 2200 КБ.

Рентгеновский флуоресцентный анализ

содержание презентации «Рентгеновский флуоресцентный анализ.ppt»
СлайдТекст
1 Рентгеновский флуоресцентный анализ

Рентгеновский флуоресцентный анализ

Тенденции развития систем. Интерпретация спектральных данных.

С.К. Савельев Санкт-Петербургский государственный университет

II Балтийская школа по физике твердого тела

2 Историческая справка

Историческая справка

1859г. Ю. Плюккер - открытие катодных лучей 8 ноября 1895г. В.К. Рентген – открытие X-ray. 1907г. «Я уже все написал, не тратьте зря времени.» 1913г. Мозли – зависимость частоты характеристических линий от ат. номера. 1917г. Баркла Нобелевская премия за «исследование характеристического излучения различных элементов». 1922г. Хаддинг – первые РС анализы при электронном возбуждении. 1924г. Сигбан Нобелевская премия за «открытия и исследования в области рентгеновской спектроскопии». 1927г. Комптон Нобелевская премия за «изменение длины волны электромагнитного излучения вследствие его рассеяния электронами» 1928г. Глокер, Шрайберг – первые РФС анализы.

3 Методы рентгеновского анализа

Методы рентгеновского анализа

Рентгенгофлуоресцентный анализ Волнодисперсионный Энергодисперсионный Полного внешнего отражения Со скользящим углом отбора С поляризованным пучком На сорбционных фидьтрах С различными видами возбуждения: синхротрон, частицы, радиоизотопы, трубки с капилярной оптикой Рентгеновский эмиссионный анализ Рентгеновский микроанализ Рентгеновский абсорбционный анализ Интегральный Спектроскопия краев поглощения Рентгеновская дефектоскопия Фотоэлектронная спектроскопия Оже-электронная спектроскопия Рентгенолюминисцентный анализ Рентгенодифракционный анализ Рентгеновская рефлектометрия Рентгеновская рефрактометрия

4 Почему РСФА

Почему РСФА

РСФА - метод определения элементного состава самых разнообразных веществ. Пробы могут быть в твердом, порошкообразном, жидком состоянии. В некоторых случаях РСФА можно успешно применять для определения толщины и состава многослойных покрытий. Анализ можно осуществить быстро и с малыми затратами при высокой точности анализа. Пробоподготовка не трудоемка.

5 Почему РСФА

Почему РСФА

(2)

При хорошей коллекции стандартных образцов можно добиваться очень высокой прецизионности и воспроизводимости. В тоже время во многих ситуациях вполне приемлемые результаты можно получить вообще без каких-либо стандартов. Время на осуществление анализа может изменяться от нескольких секунд до десятков минут. Как правило 1 - 5 минут. Спектрометры легко встраиваются в автоматизированные системы технологических процессов предприятия. Просты в эксплуатации, не требуют дорогих расходных материалов. Затраты на сервисное обслуживание зависят от прибора, но как правило либо почти равны нулю, либо не очень высоки. В настоящее время на рынке имеется большой выбор разнообразных устройств.

6 Основные физические процессы при РФА

Основные физические процессы при РФА

7 Структурная схема рентгенофлуоресцентного спектрометра

Структурная схема рентгенофлуоресцентного спектрометра

8 Основные схемы спектрометров РФА

Основные схемы спектрометров РФА

9 Пределы обнаружения для некоторых аналитических задач (EDX-700)

Пределы обнаружения для некоторых аналитических задач (EDX-700)

10 Интерпретация спектральных данных

Интерпретация спектральных данных

11 Общая структура аппаратного спектра

Общая структура аппаратного спектра

12 Общая схема обработки данных РФА

Общая схема обработки данных РФА

Корректировка на искажения спектра при детектировании Первичная обработка спектра Фильтрация Вычитание фона Обработка пиков: разделение наложений, идентификация и определение интенсивностей Определение содержаний элементов по измеренным интенсивностям

13 Матричный эффект и эффект подвозбуждения

Матричный эффект и эффект подвозбуждения

14 Относительный вклад различных процессов в возбуждение CrK

Относительный вклад различных процессов в возбуждение CrK

для образца: 60 % Ni – 10 % Fe – 30 % Cr (трубка с Мо-анодом, напряжение 40 кВ)

?65,38

?65,38

?65,38

?32,64

?32,64

?32,64

Effect

Input, %

1

Mo K? ? Cr K?

53,39

2

Mo K? ? Cr K?

7,16

3

?I?тd? ? cr k?

4,83

4

Mo K? ? Ni K? ? Cr K?

20,75

5

Mo K? ? Ni K? ? Cr K?

3,25

6

Mo K? ? Fe K? ? Cr K?

3,12

7

Mo K? ? Ni K? ? Cr K?

2,84

8

?I?тd? ? ni k? ? cr k?

0,94

9

Mo K? ? Ni K? ? Cr K?

0,45

10

Mo K? ? Fe K? ? Cr K?

0,44

11

Mo K? ? Fe K? ? Cr K?

0,42

12

?I?тd? ? fe k? ? cr k?

0,19

13

?I?тd? ? ni k? ? cr k?

0,15

14

Mo K? ? Fe K? ? Cr K?

0,06

15

?I?тd? ? fe k? ? cr k?

0,03

16

IMo(?)* ? Ni K? ? Fe K? ? Cr K?

1,49

17

IMo(?)* ? Ni K? ? Fe K? ? Cr K?

0,24

18

IMo(?)* ? Ni K? ? Fe K? ? Cr K?

0,22

19

IMo(?)* ? Ni K? ? Fe K? ? Cr K?

0,03

?1,96

?1,96

?1,96

15 Выражение для интенсивности характеристического излучения при

Выражение для интенсивности характеристического излучения при

монохроматическом возбуждении

Сi – концентрация определяемого элемента Il - интенсивность возбуждающего излучения ml, mi – сечение ослабления возбуждающего и характеристического излучения - сечение поглощения возбуждающего излучения в элементе i

16 Изменение интенсивности элемента в зависимости от содержания в

Изменение интенсивности элемента в зависимости от содержания в

различных матрицах

17 Определение высоких содержаний в средах с малым атомным номером

Определение высоких содержаний в средах с малым атомным номером

18 Рентгеновский флуоресцентный анализ
19 Рентгеновский флуоресцентный анализ
20 Варианты учета матричных и межэлементных влияний

Варианты учета матричных и межэлементных влияний

Способы коэффициентов влияния Теоретические коэффициенты влияния Эмпирические коэффициенты влияния Способы фундаментальных параметров (теоретические интенсивности) Решение системы уравнений I=F(C) Прямое моделирование спектра

21 Рентгеновский флуоресцентный анализ
22 Пример применения комбинированных уравнений связи

Пример применения комбинированных уравнений связи

23 Рентгеновский флуоресцентный анализ
24 Примеры градуировочных зависимостей по комбинированным уравнениям

Примеры градуировочных зависимостей по комбинированным уравнениям

связи

Железо в ЖМК Марганец в ЖМК

25 Учет матричных эффектов за счет анализа рассеянной составляющей

Учет матричных эффектов за счет анализа рассеянной составляющей

спектра. Способ стандарта-фона

Теоретическая зависимость удельного параметра R1Ni= ?Ni / IS от ослабляющих свойств матрицы. 1- ?Ni / Iкг 2 - ?Ni / Iнк 3 - ?Ni / IsT 4 - ?Ni /( Iнк + 1,2)

26 Модифицированный способ стандарта-фона

Модифицированный способ стандарта-фона

Са =

.

27 Сопоставление множественной регрессии и МССФ

Сопоставление множественной регрессии и МССФ

28 Фундаментальные параметры

Фундаментальные параметры

29 Фундаментальные параметры (2)

Фундаментальные параметры (2)

30 Рентгеновский флуоресцентный анализ
31 Основная идея – использование рассеяных линий из спектра возбуждения

Основная идея – использование рассеяных линий из спектра возбуждения

Анализ дифракционных пиков Реконструкция спектров рассеяния для определения легких элементов

Привлечение дополнительной информации из данных РФА спектрометров для повышения информативности измерений

32 Использование дифракционных данных

Использование дифракционных данных

33 Рентгеновский флуоресцентный анализ
34 Определение легких элементов восстановлением диаграммы рассеяния Схема

Определение легких элементов восстановлением диаграммы рассеяния Схема

измерения

35 Дифференциальные массовые сечения рассеяния и фотопоглощения для

Дифференциальные массовые сечения рассеяния и фотопоглощения для

элементов с малым атомным номером

36 Градуировочная зависимость для опредения водорода на РФА спектрометре

Градуировочная зависимость для опредения водорода на РФА спектрометре

37 Градуировочные зависимости для легких элементов

Градуировочные зависимости для легких элементов

Диапазоны содержаний Cmin, Cmax, СКО градуировочной зависимости S0

38 Благодарности

Благодарности

Б.Д. Калинин А.В. Бахтиаров ООО «Прецизионные технологии»

39 Спасибо за внимание

Спасибо за внимание

«Рентгеновский флуоресцентный анализ»
http://900igr.net/prezentacija/fizika/rentgenovskij-fluorestsentnyj-analiz-188598.html
cсылка на страницу

Ионизирующее излучение

11 презентаций об ионизирующем излучении
Урок

Физика

134 темы
Слайды
900igr.net > Презентации по физике > Ионизирующее излучение > Рентгеновский флуоресцентный анализ