Слайды
<<  Слайд №2 Слайд 1. Тема, автор  >>
Лекция 1 Слайд 1
Лекция 1 Слайд 1
Лекция 1 Слайд 2
Лекция 1 Слайд 2
Лекция 1 Слайд 3
Лекция 1 Слайд 3
Лекция 1 Слайд 4
Лекция 1 Слайд 4
Лекция 1 Слайд 5
Лекция 1 Слайд 5
Лекция 1 Слайд 6
Лекция 1 Слайд 6
Энергия частиц пучка В элементном и структурном анализе обычно
Энергия частиц пучка В элементном и структурном анализе обычно
Лекция 1 Слайд 8
Лекция 1 Слайд 8
При взаимодействии потоков корпускулярных излучений с атомами образца
При взаимодействии потоков корпускулярных излучений с атомами образца
Лекция 1 Слайд 10
Лекция 1 Слайд 10
Лекция 1 Слайд 11
Лекция 1 Слайд 11
Лекция 1 Слайд 12
Лекция 1 Слайд 12

Презентация: «Лекция 1 Слайд 1». Автор: Garry. Файл: «Лекция 1 Слайд 1.ppt». Размер zip-архива: 61 КБ.

Лекция 1 Слайд 1

содержание презентации «Лекция 1 Слайд 1.ppt»
СлайдТекст
1 Лекция 1 Слайд 1

Лекция 1 Слайд 1

МЕТОДЫ ЭЛЕМЕНТНОГО И СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА 7 семестр 8 семестр лекции – 2часа/неделю, лекции – 2часа/неделю практические занятия лабораторные работы 1 час/неделю 1 час/неделю экзамен зачет Жабрев Геннадий Игоревич – доцент кафедры Сверхпроводимость и физика наноструктур.

2 Лекция 1 Слайд 2

Лекция 1 Слайд 2

Основная литература: Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. М.: Мир, 1989. Аброян И.А., Андронов А.Н., Титов А.И. Физические основы электронной и ионной технологии. М.: Высшая школа, 1984. Дополнительная литература: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984. Количественный электронно-зондовый микроанализ. Под ред. В. Скотта, Г. Лава. М.: Мир, 1986. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Под ред. Д.Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. Л. Энгель, Г. Клингель. Растровая электронная микроскопия. – Справочник. – М.: «Металлургия», 1986. Тронева Н. В., Тронева М. А. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов). – М.: «Металлургия», 1996. Введение в физику поверхности / К. Оура [и др.]. - Москва : Наука, 2006. Томас, Г., Гориндж М.Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов. - М. : Наука, 1983. Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. - Москва : Техносфера, 2006.

3 Лекция 1 Слайд 3

Лекция 1 Слайд 3

Темы лекции: Элементный и структурный анализ в развитии современных технологий. Основные определения, используемые в последующем изложении. Упругое рассеяние в лабораторной системе координат.

4 Лекция 1 Слайд 4

Лекция 1 Слайд 4

Плотность потока частиц – j В общем случае величина j будет функцией координат в плоскости перпендикулярной оси пучка – неоднородный пучок и/или времени. В последнем случае зависимость м. б. периодической – импульсный источник частиц или апериодической – за счет временного дрейфа параметров стационарного источника частиц.

Число частиц, проходящих в единицу времени через площадку единичной площади, расположенную перпендикулярно оси пучка

5 Лекция 1 Слайд 5

Лекция 1 Слайд 5

мкА/с = 10-6 Кл/см2?с = 6,25?1012 частиц/см2?с

Единица измерения j в системе СИ – частиц/м2?с. На практике более употребительной является единица измерения – частиц/см2?с. Если речь идет о пучках заряженных частиц, то в качестве единицы измерения обычно используется мкА/см2 либо Кл/см2?с.

6 Лекция 1 Слайд 6

Лекция 1 Слайд 6

Расходимость пучка Единица измерения – радиан Осесимметричный пучок, система из 2-х коллимирующих диафрагм В аппаратуре для элементного и структурного анализа расходимость пучка обычно меньше 10-3 радиан (3,4 угловых минут).

Предельный угол отклонения векторов скорости частиц в пучке от его оси

7 Энергия частиц пучка В элементном и структурном анализе обычно

Энергия частиц пучка В элементном и структурном анализе обычно

используются потоки частиц фиксированной энергии. Такие пучки называются моноэнергетическими (иногда, по аналогии со световой оптикой монохроматическими). В качестве единицы измерения энергии используется внесистемная единица эВ, численно равная энергии, которую приобретает частица любой массы, несущая один элементарный заряд, пройдя разность потенциалов один вольт.

Лекция 1 Слайд 7

1 эВ = 1,6?10-19 Дж = 1,6?10-12 эрг

8 Лекция 1 Слайд 8

Лекция 1 Слайд 8

Хотя пучки и называются моноэнергетическими, но в действительности всегда существует разброс по энергиям у частиц пучка относительно некоторой средней величины, которая называется энергией пучка Е. Разброс по энергиям определяется свойствами источника частиц; в неко-торых методиках необходимы пучки со степенью моноэнергетичности ?Е/Е не более 10-4.

Мерой разброса или степенью моноэнергетичности явля-ется отношение ?Е/E, где ?Е - модуль максимальной раз-ности между величиной Е и энергиями, которые реально имеют частицы пучка.

9 При взаимодействии потоков корпускулярных излучений с атомами образца

При взаимодействии потоков корпускулярных излучений с атомами образца

часто имеют место процессы упругого рассеяния. В дальнейшем часто можно будет считать, что рассеяние движущейся со скоростью v0 (энергией Е0) частицы массой m1 происходит на неподвижной частице массой m2. В лабораторной системе координат (л.с.к.) после упругого рассеяния частица m1, отклонившись от первоначального направления движения на угол рассеяния ?, движется со скоростью v1 (энергией Е1), а первоначально покоящаяся частица m2 движется со скоростью v2 (энергией Е2) по направлению составляющему угол отдачи Ф относительно первоначального направления движения частицы m1.

Лекция 1 Слайд 9

Упругое рассеяние – рассеяние, при котором внутреннее состояние взаимодействующих частиц остается неизменным

10 Лекция 1 Слайд 10

Лекция 1 Слайд 10

Из законов сохранения энергии и импульса имеем следующую систему уравнений где k и ? – кинематические факторы процесса упругого рассеяния, причем k + ? = 1.

11 Лекция 1 Слайд 11

Лекция 1 Слайд 11

Решение которого где ? = m1/m2.

12 Лекция 1 Слайд 12

Лекция 1 Слайд 12

Для кинематических факторов получаем следующие выражения при фиксированном угле рассеяния ? кинематический фактор k может иметь два разных значения, отвечающих разным знакам перед квадратным корнем. Так как k + ? = 1, то ? тоже может принимать два значения. Это означает, что два значения должен принимать угол отдачи Ф. Кроме того, при ? ? 1 (m1 ? m2) существует предельный угол рассеяния ?мак = arcsin(1/?). Двузначность k и Ф и, соответственно, Е1 и Е2 получена чисто математически, как следствие решения квадратного уравнения. Для того, чтобы понять физические причины появления подобной двузначности необходимо рассмотреть процесс упругого рассеяния в системе центра масс.

«Лекция 1 Слайд 1»
http://900igr.net/prezentacija/informatika/lektsija-1-slajd-1-245657.html
cсылка на страницу

Слайды

15 презентаций о слайдах
Урок

Информатика

130 тем
Слайды